
PRODUCT CLASSIFICATION
更新時間:2026-01-22
瀏覽次數:78箱式電阻爐加熱元件的常見故障與元件材質、工況條件及操作維護密切相關,不同類型元件的故障表現存在差異,具體可歸納為以下幾類:
氧化脆化斷裂
這是所有類型加熱元件的共性故障,也是常見的失效原因。
故障表現:元件表面氧化層增厚、剝落,材質變脆,升溫過程中出現斷裂,尤其在彎折處或懸掛支點附近更易發生。
誘因:長期在額定溫度上限運行、頻繁啟停導致的熱疲勞、爐膛內氧氣含量過高;鐵鉻鋁元件在高溫下氧化速度會顯著加快,鎳鉻元件則易因晶界氧化出現沿晶斷裂。
局部過熱燒熔
故障表現:元件局部出現熔蝕、鼓包甚至熔斷,伴隨爐膛內局部溫度異常偏高。
誘因:加熱元件安裝間距過小,導致熱流疊加形成高溫區;物料與元件直接接觸,造成局部熱傳導失衡;溫控系統失靈(如熱電偶脫落、固態繼電器粘連)引發超溫。
電阻值異常漂移
故障表現:元件電阻值大幅升高,導致爐體升溫速率變慢、額定溫度無法達到,或溫控儀表頻繁報警。
誘因:碳化硅棒長期高溫使用后,表面生成玻璃相氧化層,電阻值隨使用時間逐漸上升;硅鉬棒在低溫段(≤400℃)發生 “粉化" 氧化,造成電阻值波動;元件接線端子氧化,接觸電阻增大。
腐蝕點蝕穿孔
故障表現:元件表面出現點狀凹坑,逐步發展為穿孔,通電時出現漏電或短路現象。
誘因:爐膛內存在硫、氯、堿金屬等腐蝕性介質(如加熱含硫礦物、潮濕物料);鎳鉻元件在含硫氣氛中易生成低熔點硫化物,破壞氧化保護層;鐵鉻鋁元件在氯氣氛下會發生晶間腐蝕。
熱震開裂(針對非金屬元件)
故障表現:碳化硅棒、硅鉬棒出現橫向或縱向裂紋,通電后電流分布不均,局部過熱加劇。
誘因:升溫 / 降溫速率過快,元件內外溫差過大產生熱應力;高溫時突然打開爐門,冷空氣沖擊造成驟冷;裝料時碰撞元件導致隱性裂紋,后續高溫工況下裂紋擴展。
返回列表